BeamOn U3是新一代的光斑分析儀，其最大的特點是大口徑、高解析度、寬光譜，也稱為CCD型光斑分析儀，鐳射測量儀。它的探測器CCD面積11x7mm（解析度1920x1200），畫素5。86x5。86μm，兩百萬畫素寬光譜探測器，具有12位動態範圍和350-1600 nm的光譜響應，可測量長達1。6 微米的光束，附件齊全，適合多種用途。測量範圍包括：光束寬度、光斑的形狀、位置、功率、強度分佈，軟體還提供了報表功能，還可以測量鐳射的光束質量，M2值。

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的光斑分析儀BeamOn U3，具有大尺寸探測器，CCD面積11x7mm（1/1。2英寸），高速的USB3。0輸出，同時具有自動濾光片轉輪。這款光斑測試儀具有全新的軟體介面，在實現精確功率測量的同時還提供用於資料分析的演算法。這款光斑分析儀具有兩個版本：幀速為40fps和150fps。

光斑分析儀 Beamon U3

BeamOn U3符合ISO 11146標準，其探測器面積大和畫素密度高的特點使其可以靈活測量小光斑和大光斑，也稱為CCD型光斑分析儀，鐳射測量儀。

一套完整的BeamOn U3-VIS-NIR型號配件包括：適用於350 - 1600 nm的探測器 ，帶有軟體控制的電動內建濾光片輪，USB3。0介面，CD /磁碟的應用軟體，便攜包。另外還可以選配SAM3-A高功率激光采樣器。

BeamOn U3

鐳射測量儀的主要特點：

通用性強，可以測光斑輪廓、功率、位置

可以測量鐳射的光束質量，M2值

高解析度（230萬畫素），12bit動態範圍

帶內建濾光片輪，方便測量不同功率

使用方便，自帶軟體，基於USB3。0

BeamOn U3

光斑分析儀規格引數

訂貨型號

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BeamOn-U3-VIS-NIR：350-1600nm

BeamOn-U3-UV-NIR：190-1600nm

附加配件：

ND- Filter：裝配2mm厚的ND濾光片（ND8，ND200和ND1000）

IR Edge Filter：厚度2。5mm，passing over 1100nm。

SAM3-A：用於高功率鐳射衰減的附件（高達20W）。

SAM3-A-HP：用於高功率鐳射衰減的附件（高達1kW），用於減梁器的RDC附件（比率2X1）。