IC測試座

主要就是用於檢查線上的單個

IC元器件以及各電路網路的開、短路情況，

俗稱導通測試，

以及模擬器件作用和數字器件邏輯作用測試。

測試期間在惡劣的環境條件下能完全實現設計規格書所規定的作用及效能指標。是對線上元器件的電效能及電氣連線進行測試來檢查生產製造缺陷及元器件不良的一種標準測試裝置。

晶片測試座

晶片

socket

測試座採用手動翻蓋式結構

、自動化

下壓式結構

、雙扣式壓合結構

，操作方便；翻蓋的上蓋

IC壓板採用彈壓式結構，能自動調節下壓力，保證IC的壓力均勻。

測試座

探針的特殊頭形突起能刺破焊接球的氧化層，接觸可靠而不會損壞錫球。高精度的定位槽或導向孔，保證

IC定位精確，生產效率高探針可更換，維修方便，成本低。

IC測試座

鴻怡電子IC

測試座socket專注

研發生產各類應用於積體電路功能驗證的測試座、老化座、燒錄座、積體電路應用功能測試夾具等

，

注意：

IC測試座（晶片測試座）是一種統稱

：它包含了各種

IC封裝型別的：如QFN測試座、BGA測試座、器件測試座、模組測試座、電容測試座、晶振測試座等等，規格引數資料（晶片規格書上均有標註）如：QFN（封裝型別）-48（pin腳數）-0。5（引腳間距）-8×8（尺寸）-測試座/燒錄座/老化座（測試要求）。

QFN測試座