光束光斑分析儀簡介

松盛光電自主研發的光束光斑分析儀可實現鐳射光斑檢測及測試應用。為客戶提供定製光束質量分析一體化設計解決方案，並支援多應用開發。光束質量分析儀裝置一體化設計，配套衰減方案設計，支援實時曝光及增益調節。適用半導體鐳射器，固體鐳射器，光纖鐳射器，超快鐳射器，鐳射測距等領域。目前已作為成熟產品在市場推廣，價效比很高，得到大量客戶認同。現公司研發部可根據客戶不同需求進行模組化定製。

松盛光電UV系列光束光斑分析儀效能特點：

UV系列鐳射光束光斑分析儀

1。適用於190~1100nm光譜範圍內的光斑測量

2。兩款不同探測面積產品可選，探測面積可達2/3

3。高解析度，畫素大小3。45m

4。支援手動和自動實時曝光及增益調節

5。 資料介面USB3。0，GigaEthernet

松盛光電UV系列光束光斑分析儀產品型號：

UV系列光束光斑分析儀產品型號

光束光斑分析儀產品特點：

1。 可選超寬光譜多波長系列產品，覆蓋紫外到長波紅外波長範圍。

2。 較寬的光斑直徑測量範圍：光斑直徑範圍可滿足目前市場大部分的光斑產品範圍，部分產品支援更小光斑拓展。

3。 光斑分析儀一體化設計，配套衰減方案設計：裝置自帶吸收衰減裝置，測低功率的毫瓦級鐳射光斑，也可根據不同功率鐳射光斑測試需求，提供可選的衰減方案，無需準備其他配件即可快速測量。

4。 軟體自主開發，可提供底層通訊協議。

5。 高性價比，可代替進口鐳射光束質量分析儀，實現鐳射光斑檢測及測試應用。

光束光斑分析儀產品光譜覆蓋範圍：

光束光斑分析儀產品光譜覆蓋範圍

需求定製：可為客戶定製不同需求的光斑分析儀，滿足不同的鐳射光束直徑和鐳射功率測試需求。